JSM-IT810 场发射扫描电子显微镜

利用自动化技术，提高了从仪器调试到观测分析的操作效率！

JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。 此外，还新增了一些功能，确保所有SEM用户获得高质量数据和更好的用户体验。 这些功能包括SEM自动调整包、梯形校正功能（在EBSD测试中非常有用）、以及用于观察表面形貌的Live 3D重构功能。

FE-SEM的操作从没有像JSM-IT810系列这么简单。

    主要特点                                                                                                                                      

1.  自动观察分析功能“Neo Action”

   智能操作，自动执行SEM观测和能谱分析(EDS)

     Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV

2.  自动校准功能“SEM自动调整包”

   用标样来进行自动倍率调整、电子束对中和EDS能量校准。定期检查确保设备处于最佳状态。

3.  实时3D功能

5段半导体型探测器可以选择背散射电子信号。从外侧4段获取的二维图像可用于三维图像重构。

全新的Live-3D功能可实时测量和检查样品的拓扑结构。

4.  一体化EDS

  一体化EDS集成消除了SEM观察与EDS元素分析之间的障碍。观察屏幕上有点、面、线、和MAP等各种分析模式，可以立刻进行分析。